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400-119-1996

详情介绍:


静态二次离子质谱(TOF-SIMS)


测试项目:质谱,二维成像,深度分析(定性),3D图
预约次数:500+次 服务周期:7-15个工作日

样品要求

1、样品要求无磁性,粉末样品至少10mg;

2、块体样品尺寸小于1cmx1cmX8mm,最小几毫米大小;

3、需要3D图请选择,默认没有;

4、深度分析具体测试费用与深度、离子有关;

5、如果测试需要和之前的同条件,送样务必提供之前测试条件;

6、正负离子分开测试,测试时间不叠加。

注:深度分析测试时间1500元/样(1小时内),超过1小时部分加收1000元/小时;测试时间不叠加。

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